|
|
Zobrazování deformace kovových materiálů pomalými elektrony
Piňos, Jakub ; Kolíbal, Miroslav (oponent) ; Kasl, Josef (oponent) ; Frank, Luděk (vedoucí práce)
Rastrovací elektronová mikroskopie patří k běžným technikám analýzy moderních strojírenských materiálů. Rozvoj různých zobrazovacích technik umožňuje volit vhodný způsob pozorování pro získání nových informací o vzorku. Tato práce se zabývá přímým zobrazením deformace v kovových vzorcích pomocí rastrovací mikroskopie pomalými elektrony v průběhu in-situ tahové zkoušky. Experimenty byly provedeny na vzorcích z čisté mědi. V průběhu zkoušek byly získány snímky umožňující sledovat vývoj vlivu deformace na mikrostrukturu materiálu od jeho prvních projevů ve struktuře při intenzitách plastické deformace 3-4% až po extrémní plastickou deformaci na čele trhliny.
|
|
| |
|
|
SMV-2012-15: Studium mikrostruktury žáropevných ocelí pomocí mikroskopie pomalými elektrony
Mikmeková, Šárka
Ocel CB je určena pro lité komponenty turbíny – ventily a skříň, z ocelí COST F a COST FB2 jsou vyráběny svařované rotory podobně jako u kombinace oceli F a niklové slitiny, který je však určen pro vyšší teploty. Aby si tyto materiály udržely požadovanou pevnost při dlouhodobém zatížení za vysokých teplot, musí být účinně blokován skluzový pohyb dislokací. Toho se v daném typu materiálu dosahuje jemným precipitátem, který však v průběhu exploatace hrubne resp. je nahrazován částicemi jiných fází, které již nemají takovou schopnost pohyb dislokací brzdit. Metodou mikroskopie pomalými elektrony bylo umožněno sledování mikrostruktury žáropevných kovových materiálů, což umožnilo detekci a (chemickou a fázovou) klasifikaci subtilních částic jemného precipitátu.
|
|
| |
|
|
Prospects of the scanning low energy electron microscopy in materials science
Mikmeková, Šárka ; Hovorka, Miloš ; Konvalina, Ivo ; Müllerová, Ilona ; Frank, Luděk
The use of the scanning low energy electron microscopy (SLEEM) has been slowly making its way into the field of materials science, hampered not by limitations in the technique but rather by the relative scarcity of these instruments in research institutes and laboratories. Various techniques exist which are capable of studying the material microstructure, with the scanning electron microscopy (SEM), (scanning) transmission microscopy ((S)TEM) and focused ion beam (FIB) microscopy being perhaps the most known. A specific way to visualizing the microstructure of materials at high spatial resolution, to achieve a high contrast between grains in polycrystals and very fast data acquisition is to use the cathode lens (CL) mode in SEM. The CL mode in the SEM enables us to detect slow but not only slow, high angle scattered electrons that carry mainly crystallographic contrast based on the electron channeling, mostly in the Mott scattering angular range.
|
|
|
Superconductive property and microstructure of MgB2/Al composite materials
Matsuda, K. ; Mizutani, M. ; Nishimura, K. ; Kawabata, T. ; Hishinuma, Y. ; Aoyama, S. ; Müllerová, Ilona ; Frank, Luděk ; Ikeno, S.
Scanning low energy electron microscopy (SLEEM) is a useful tool for observation of insulating samples and determination of microstructure on a specimen surface. In the present work, we have applied the SLEEM to examine the microstructure contrast between boride particles and Al matrix.
|
|
| |
host ::
RSS.